GIS典型的局部放電特征多種多樣，對與導(dǎo)致局部放電的原因進行分析我們可以找到多種放電缺陷，對此我們將GIS典型局放缺陷進行簡單歸類介紹如下，大致上可分為8類：
（1）GIS氣室內(nèi)存在自由移動的金屬微粒
自由金屬顆粒的外形有粉末狀或尺寸較大金屬顆粒(如螺絲釘)等，那些可以在外電場強度的影響下感應(yīng)自由電荷并得到足夠的磁場強度能量，進而在電場力的影響下進行活動，如果磁場強度足夠強，自由金屬顆粒得到的能量足夠大，就極有可能性穿過外殼和高壓導(dǎo)體之間的空隙或移動到絕緣有損傷的部位。自由金屬顆?；顒拥乃郊热Q于金屬顆粒物的材質(zhì)和外形，又取決于外磁場強度的強度和影響時長等要素。自由金屬顆粒的活動可以大幅度減少SF6氣體的損傷水平，當金屬顆?；顒拥浇^緣子的表層時，也會促使表層部分磁場強度集中，進而大幅度降低絕緣子表層的閃絡(luò)電壓。因此自由金屬顆粒形成的GIS損傷故障可以分成金屬顆粒在絕緣子表層活動形成的絕緣子沿面放電而導(dǎo)致的閃絡(luò)和SF6氣體介質(zhì)擊穿。固體物質(zhì)的沿面閃絡(luò)工作電壓遠遠達不到SF6汽體的擊穿場強，導(dǎo)體和絕緣體表面的隨意金屬粒子非常容易形成GIS機器設(shè)備的損害安全事故，不良影響更大。那些金屬顆粒在磁場強度的影響下形成放電，并隨處不可預(yù)測性的移動。只在形成燃燒氣化后形成其他金屬化合物后沉降在罐體內(nèi)某處。一般來說在進行交流耐壓試驗的時候，可將體積小的金屬顆粒清除，體積大的顆粒依舊磚留在罐體中。
（2） GIS殼體或高壓導(dǎo)體上存在針尖狀突出物
金屬突出物缺陷一般來說是在加工廠或?qū)嵉亟M裝環(huán)節(jié)中形成的，有可能性是導(dǎo)體或外殼表層沒有處理光潔，也會有可能性是組裝環(huán)節(jié)中金屬碰撞所形成的。在穩(wěn)定的交流電壓下，尖刺周圍的高壓導(dǎo)電體附近形成六氟化硫損傷氣體較高磁場強度，當局部磁場強度達到六氟化硫氣體的起暈磁場強度時則形成電暈放電。只不過，在電極其他部位的磁場強度依舊達不到擊穿場強，這類放電只形成在部分范圍而沒有貫穿整個電極之間，因此那些高磁場強度區(qū)所形成的電暈有時候看起來比較穩(wěn)定，一般來說不會形成SF6氣體的擊穿。只不過在迅速暫態(tài)過程情況下，例如在雷電過電壓或操作過電壓(尤其是迅速暫態(tài)過程過電壓)下，通常會引起損傷故障。只不過，目前隨著GIS設(shè)備生產(chǎn)制造工藝和實地組裝工藝的日趨完善，設(shè)備投入使用時存在金屬突出物缺陷的概率大幅度降低，小的針尖狀突出物亦可在交流耐壓試驗的老煉環(huán)節(jié)清除。
（3） GIS氣室內(nèi)絕緣子表面上存在固定金屬微粒
GIS設(shè)備在生產(chǎn)、裝配、運輸以及開關(guān)動作等環(huán)節(jié)難以避免在設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生一些金屬顆粒物，金屬顆粒物隨機運動其中有部分會吸附在絕緣子表面，這部分絕緣子通常會向場強低的區(qū)域移動從而不會發(fā)生局放；但是有些情況，當絕緣子表面存在油污將金屬顆粒物黏住或者在開關(guān)動作產(chǎn)生高溫的金屬粒子燒熔在絕緣子表面時，金屬顆粒會產(chǎn)期固定在絕緣表面，從而會導(dǎo)致局部場強集中，大大降低了絕緣子表面的閃絡(luò)電壓，最后形成局部放電，嚴重的話還會引發(fā)絕緣事故。
（4） GIS氣室內(nèi)高壓導(dǎo)體附近存在懸浮電位體或?qū)w間連接點接觸不好
GIS內(nèi)部用以改善危險區(qū)域的電場分布的屏蔽電極與高壓或者接地導(dǎo)體間的電氣連接一般采用輕負載接觸，然而，一些連接部件在前期雖然接觸良好，但隨著開關(guān)操作所產(chǎn)生的機械振動會導(dǎo)致移位或隨著時間老化、劣化，都有可能造成屏蔽罩松動、固定底座用的螺栓松動，從而出現(xiàn)懸浮電位。同時，靜電屏蔽體或?qū)w連接點機械的不良接觸又會加劇因靜電力引起的機械振動，從而進一步導(dǎo)致接觸不良，最終出現(xiàn)電極電位浮動。對于大多數(shù)電位浮動的電極，所形成的等效電容在充電或放電過程中會產(chǎn)生局部放電，并以各種能量形式往外釋放。
關(guān)注微信公眾號