1. 直流耐壓試驗(yàn)法的缺陷
(1)直流耐壓試驗(yàn)中，施加在電力電纜上的電壓是按照電阻率分布的，不能反映電纜在交流耐壓下電壓按介電常數(shù)分布的實(shí)際工況，從而不能有效檢驗(yàn)出電纜在交流電壓作用下的絕緣缺陷。(2)直流電壓本身容易在電纜內(nèi)部集起空間電荷，在該電纜投人運(yùn)行時(shí)，殘留的直流電荷會(huì)疊加在交流電壓峰值上，使得電纜的運(yùn)行電壓大于其額定電壓，從而加速電纜的老化，并有可能導(dǎo)致絕緣擊穿。
(3)電纜內(nèi)部某些絕緣弱點(diǎn)的部位均可能產(chǎn)生局部放電，持續(xù)的局部放電對(duì)絕緣是有害的。直流電壓可使電纜內(nèi)部的局部放電大為減弱，不利于絕緣缺陷的檢出。
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