局部放電的電氣檢測法是在定的電壓條件下，當(dāng)設(shè)備的絕緣結(jié)構(gòu)被腐蝕時，測試由試品局部放電所引起的高頻電流脈沖信號。因為這類干擾信號會經(jīng)常出現(xiàn)不固定的相位，和局部放電信號的波形也非常相似，所以是最難以去除的一類干擾信號。此類干擾的特點是：在時域上表現(xiàn)為脈沖信號，且持續(xù)時間非常短暫；而在頻域上表現(xiàn)為寬帶信號，含多鐘頻率成分。

1. 可控硅元件動作引起的干擾
引起此類干擾的原因是：在供電設(shè)備中，存在可控硅元件在工作?？煽毓韪蓴_擾是一種最強(qiáng)的干擾源，其干擾的大小和所用可控硅的功率息息相關(guān)。此類干擾波形的特點是：在橢圓基線上，每個元件都會產(chǎn)生一個與之相應(yīng)的高頻電流脈沖信號，信號的位置是固定的，且所占的比重比較大、因為當(dāng)電路被接通時，信號的波形會變寬，幅值會增大，電磁耦合效應(yīng)將會增強(qiáng)。

2. 異步電機(jī)引起的干擾
引起此類干擾的原因是：在檢測回路中有耦合的異步電機(jī)在運行。此類干擾波形的特點是：在橢圓正、負(fù)半周上對稱的出現(xiàn)兩組信號，且沿橢圓基線逆掃描方向移動。

3. 熒光燈引起的干擾
此類干擾波形的特點是：在橢圓墓線的正、負(fù)半周上，對稱分布出現(xiàn)欄柵狀的二簇脈沖組，且信號的幅值大小基本相等。如圖所示：(1)為單個可控硅元件動作產(chǎn)生的干擾；(2)為6極水銀整流器產(chǎn)生的干擾，它和可控硅動作產(chǎn)生的干擾波形作常相似；(3)為旋轉(zhuǎn)電機(jī)產(chǎn)生的干擾；(4)為熒光燈工作引起的干擾。